雙晶薄膜X光繞射儀

機台位置

國立中山大學國際研究大樓地下1樓(IR0001)

機台型號

Bede D1 HR-XRD (高解析度X-ray)

可分析：薄膜、粉末、塊材 (sample厚度勿超過4mm；主要以Thin film為主)

功能：

1. Thin film grazing incident x-ray diffraction
2. X-ray reflectivity
3. Rocking curve for epitaxial thin film
4. Reciprocal space mapping
5. Texture analysis (pole figure)
6. Grazing Incidence In-plane X-ray Diffraction

機台可區分為四部份

1. sealed-tube
2. sample stage
3. detector arm
4. Microsource(beam size:1mm*1mm)

最大功率可達2.2kW，一般操作於2kW(40kV、50mA)

收費標準

1. 請與已通過認證者學習如何使用機台，學會後再與儀器認證人員約定時間進行認證，訓練認證費用2000元。
   (必須擁有輻射委員會之輻射防護工作許可證明書才可認證並自行操作，一學期舉辦一次講習，https://envisafe.nsysu.edu.tw/?Lang=zh-tw)
2. 機台使用每小時300元，時數以帳號登入紀錄為準，以整點計數，未滿一小時以一小時計。
   (通過認證及給予帳號、密碼)
3. 委託操作每小時500元。
4. simulation software之使用每小時100元，亦以帳號登入紀錄為準。

聯絡方式